東莞銘上電子科技專業(yè)東莞久田錫膏密腳IC ,QFN,BGA,手機(jī)板焊接錫膏,SMT周邊氧化元件焊接錫膏,氧化板焊接錫膏,解決不上錫,錫不擴(kuò)散,上錫不飽滿PCB焊接需求。LED錫膏,晶片錫膏,晶元焊接錫膏 ,低溫錫膏、中溫錫膏,高溫錫膏,高鉛錫膏廠家直銷0769-89760065,13802450085李生.
隨著電子行業(yè)小型化多功能化發(fā)展的趨勢(shì),越來(lái)越多的多功能,體積小的元件應(yīng)用于在各種產(chǎn)品上,例如 QFN 元件和 LGA 元件。
QFN 是一種無(wú)引腳封裝,呈正方形或矩形,封裝底部中央位置有一個(gè)大面積裸露焊盤(pán)用來(lái)導(dǎo)熱,通過(guò)大焊盤(pán)的封裝外圍四周焊盤(pán)導(dǎo)電實(shí)現(xiàn)電氣連結(jié)。由于無(wú)引腳,貼裝占有面積比 QFP
小,高度 比 QFP 低,加上杰出的電性能和熱性能,這種封裝越來(lái)越多地應(yīng)用于在電子行業(yè)。QFN 封裝具有優(yōu)異的熱性能,主要是因?yàn)榉庋b底部有大面積散熱焊盤(pán),為了能有效地將熱量
從芯片傳導(dǎo)到 PCB 上,PCB 底部必須設(shè)計(jì)與之相對(duì)應(yīng)的散熱焊盤(pán)以及散熱過(guò)孔,散熱焊盤(pán)提供了可靠的焊接面積,過(guò)孔提供了散熱途徑。因而,當(dāng)芯片底部的暴露焊盤(pán)和 PCB 上的熱焊盤(pán)進(jìn)行焊接時(shí),由于熱過(guò)孔和大尺寸焊盤(pán)上錫膏中的氣體將會(huì)向外溢出,產(chǎn)生一定的氣體孔,對(duì)于 smt 工藝而言,會(huì)產(chǎn)生較大的空洞,要想消除這些氣孔幾乎是不可能的,只有將
氣孔減小到最低量。
LGA(land grid array)即在底面制作有陣列狀態(tài)坦電極觸點(diǎn)的封裝,它的外形與 BGA 元件非常相似,由于它的焊盤(pán)尺寸比 BGA 球直徑大 2~3 倍左右,在空洞方面同樣也很難控制。并且
它與 QFN 元件一樣,業(yè)界還沒(méi)有制定相關(guān)的工藝標(biāo)準(zhǔn),這在一定程度上對(duì)電子加工行業(yè)造成了困擾。
本文通過(guò)大量實(shí)驗(yàn)從鋼網(wǎng)優(yōu)化,爐溫優(yōu)化以及預(yù)成型焊片來(lái)尋找空洞的解決方案。
實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)在實(shí)驗(yàn)中所采用的 PCB 為板厚 1.6mm 的鎳金板, 上的 QNF 散熱焊盤(pán)上共有 22 個(gè)過(guò)孔;PCB如圖示 1。QFN 采用 Sn 進(jìn)行表面處理,四周引腳共有 48 個(gè),每個(gè)焊盤(pán)直徑為 0.28mm,間距為 0.5mm,散熱焊盤(pán)尺寸為 4.1*4.1mm。如圖示 2.圖 1,PCB 板上的 QFN 焊盤(pán)實(shí)驗(yàn) 1---對(duì)比兩款不同的錫膏
圖 2,實(shí)驗(yàn)所用的 QFN 元件在實(shí)驗(yàn)中,為了對(duì)比不同的錫膏對(duì)空洞的影響,我們采用了兩種錫膏,一款來(lái)自日系錫膏 A,
一款為美系錫膏 B,均為業(yè)界最為知名的錫膏公司。錫膏合金為 SAC305 的 4 號(hào)粉錫膏,鋼網(wǎng)厚度為 4mil,QFN 散熱焊盤(pán)采用 1:1 的方形開(kāi)孔,對(duì)比空洞結(jié)果如下圖所示,發(fā)現(xiàn)兩款
錫膏在 QFN 上均表現(xiàn)出較大的空洞,這可能由于散熱焊盤(pán)較大,錫膏覆蓋了整個(gè)焊盤(pán),影響了助焊劑的出氣以及過(guò)孔產(chǎn)生的氣體沒(méi)辦法排出氣,造成較大的空洞,即使采用很好的錫
膏的無(wú)濟(jì)于事。錫膏 A(空洞率 35.7%)實(shí)驗(yàn) 2---采用不同的回流曲線
錫膏 B(空洞率 37.2%)考慮到助焊劑在回流時(shí)揮發(fā)會(huì)產(chǎn)生大量的氣體,在實(shí)驗(yàn)中,我們采用了典型的線性式曲線和馬鞍式平臺(tái)曲線,通過(guò)回流我們發(fā)現(xiàn),采用線性的曲線,它們的空洞率都在 35%~45 之間。大的空洞較明顯,相對(duì)于平臺(tái)式曲線,它的空洞數(shù)量較少。而采用平臺(tái)式的曲線,沒(méi)有很大的空洞,但是小的空洞數(shù)量較多。這主要是因?yàn)椴捎闷脚_(tái)式曲線,有助于助焊劑在熔點(diǎn)前最大的揮發(fā),大部分揮發(fā)性物質(zhì)在熔點(diǎn)前通過(guò)高溫烘烤蒸發(fā)了,所以沒(méi)有很大的空洞;而線性式的曲線,由于預(yù)熱到熔點(diǎn)的時(shí)間較短,大部分的揮發(fā)性物質(zhì)還沒(méi)有及時(shí)揮發(fā),到達(dá)熔點(diǎn)的時(shí)候,焊料融化形成很大的表面張力,同時(shí)許多氣體同時(shí)揮發(fā),所以形成較大的空洞且空洞數(shù)量較小。
rofile 1
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實(shí)驗(yàn) 3---采用不同的焊盤(pán)開(kāi)孔方式,對(duì)于散熱焊盤(pán),由于尺寸較大,并且有過(guò)孔,在回流時(shí),過(guò)孔由于加熱產(chǎn)生的氣體以及助焊劑本身的出氣由于沒(méi)有通道排出去,容易產(chǎn)生較大的空洞。在實(shí)驗(yàn)中,為了幫助氣體排出去,我們將它分割為幾塊小型的焊盤(pán),如下圖所示,我們采用三種開(kāi)孔方式。
開(kāi)孔 1
開(kāi)孔 2
開(kāi)孔 3
如下圖所示,采用 3 種不同的鋼網(wǎng)開(kāi)孔方式,回流后在 x-ray 下看空洞率均差不多,都在 35%左右,隨著通道的增多,空洞的大小也逐漸降低,如圖示開(kāi)孔 1 中最大的空洞為 15%,而開(kāi)
孔 3 中最大的空洞為 5%。開(kāi)孔 1 表現(xiàn)出較大個(gè)的空洞,空洞的數(shù)量較少,開(kāi)孔 2 與開(kāi)孔 3的空洞率均差不多,且單個(gè)的空洞均小于開(kāi)孔 1 的空洞,但小的空洞數(shù)量較多,開(kāi)孔 3 沒(méi)有
較大的空洞,但是空洞的數(shù)量很多,如下圖所示。
開(kāi)孔 1
開(kāi)孔 2
開(kāi)孔 3
在另一種產(chǎn)品上,我們對(duì) QFN 采用同樣的 3 種開(kāi)孔方式,空洞表現(xiàn)與上面的產(chǎn)品表現(xiàn)不一樣,當(dāng)通道越多時(shí)空洞率越低,這說(shuō)明對(duì)于某些 QFN 元件,減少大焊盤(pán)開(kāi)孔尺寸增加通道
有助于改善空洞率,但是對(duì)于某些 QFN 特別是有許多過(guò)孔的大焊盤(pán),更改鋼網(wǎng)開(kāi)孔方式對(duì)于空洞而言并沒(méi)有太大的幫助。
實(shí)驗(yàn) 4----采用低助焊劑含量的焊料
由于空洞主要與助焊劑出氣有關(guān),那么是否可采用低助焊劑含量的焊料?在實(shí)驗(yàn)中,我們采用相同合金成份的預(yù)成型焊片 preform---SAC305,1%助焊劑,焊片尺寸為 3.67*3.67*0.05mm,焊片與散熱焊盤(pán)的比例為 89%,對(duì)比錫膏中 11.5%的助焊劑,在散熱焊盤(pán)上采用預(yù)成型焊盤(pán),也就是用 preform 替代錫膏,期待以通過(guò)降低助焊劑的含量來(lái)減少出氣來(lái)得到較低的空洞率。
在鋼網(wǎng)開(kāi)孔上,對(duì)于四周焊盤(pán)并不需要進(jìn)行任何的更改,我們只需對(duì)散熱焊盤(pán)的開(kāi)孔方式進(jìn)行更改,如下圖所示,散熱焊盤(pán)只需要在四周各開(kāi)一個(gè)直徑 0.015’’的小孔以固定焊盤(pán)即可。
在回流曲線方面,我們采用產(chǎn)線實(shí)際生產(chǎn)用的曲線,不做任何更改,過(guò)爐后通過(guò) x-ray 檢測(cè)看 QFN 元件空洞,如下圖所示,空洞率為 3~6%,單個(gè)最大空洞才 0.7%左右。
補(bǔ)充實(shí)驗(yàn) 5-----焊片是否可解決 LGA 元件空洞?
由于 LGA 元件焊盤(pán)同樣較大,在空洞方面也比較難控制,那么焊片是否可用于 LGA 降低空洞?如下圖所示,LGA 上共有 2 種不同尺寸的焊盤(pán),58 個(gè) 2mm 直徑的圓形焊盤(pán)和 76 個(gè)
1.6mm 直徑的圓形焊盤(pán),焊盤(pán)下同樣有過(guò)孔。使用錫膏回流,優(yōu)化爐溫和鋼網(wǎng)開(kāi)孔,效果均不明顯,它的空洞率大概在 25~45%左右。如
下圖所示。如何在 LGA 使用焊片呢?由于它的焊盤(pán)分別為 2mm 和 1.6mm 的圓形,考慮到焊片和 LGA元件的固定問(wèn)題,我們?cè)阡摼W(wǎng)開(kāi)孔時(shí),將圓形焊盤(pán)開(kāi)孔設(shè)計(jì)為 4 個(gè)小的圓形開(kāi)孔,焊片尺寸與焊盤(pán)比例為 0.8,以保證焊盤(pán)的錫膏在固定焊片的同時(shí)還能粘住 LGA 元件。如下圖所示,對(duì)于實(shí)驗(yàn)結(jié)果簡(jiǎn)單描述下,在回流中我們不更改任何的回流溫度設(shè)定,通過(guò) X-ray 檢測(cè)空洞
率大概在 6~14%
總結(jié)
對(duì)于大焊盤(pán)元件,例如 QFN 和 LGA 類元件,將焊盤(pán)切割成井字形或切割成小塊,有助于降低較大尺寸的空洞,因?yàn)樵黾油ǖ烙兄跉怏w的釋放。在回流曲線方面,需要考慮不同錫膏
中助焊劑揮發(fā)的溫度,盡量在回流前將大部分的氣體揮發(fā)有助于降低較大尺寸的空洞,而使用線性的回流曲線有助于減小空洞的數(shù)量。如果有過(guò)孔較大的狀態(tài)下,鋼網(wǎng)開(kāi)孔和回流曲線
都無(wú)法降低空洞時(shí),使用焊片可以快速有效的降低空洞,這主要是因?yàn)楹钙闹竸┖肯鄬?duì)于錫膏而言降低了 5 倍,錫膏中的助焊劑含有溶劑,松香,增稠劑等造成大量的揮發(fā)物在
高溫時(shí)容易形成較大的空洞,而焊片中的助焊劑成份主要由松香組成,不含溶劑等物質(zhì),所以有效地降低了空洞。
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